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光譜測(cè)金儀的工作原理|藍(lán)景科技

更新時(shí)間:2024-11-27點(diǎn)擊次數(shù):28

光譜測(cè)金儀是一種基于光譜分析技術(shù)的精密儀器,通過發(fā)射特定波長的光線照射待測(cè)樣品,并收集反射或透射回來的光譜信號(hào),從而分析樣品中的元素組成及其含量。常見的光譜測(cè)金儀類型包括X射線熒光光譜儀(XRF)、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)等。

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工作原理

  1. X射線熒光光譜儀(XRF)

    • XRF通過發(fā)射X射線照射樣品,使樣品中的原子激發(fā)并發(fā)出特征X射線熒光。通過檢測(cè)這些熒光的強(qiáng)度和能量,可以確定樣品中各元素的種類和含量。

    • XRF具有非破壞性、操作簡便、檢測(cè)速度快等優(yōu)點(diǎn),適用于各種形狀和大小的樣品。

  2. 激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)

    • LIBS利用高能激光束照射樣品表面,產(chǎn)生高溫等離子體,等離子體中的原子和離子在冷卻過程中發(fā)出特征光譜。通過分析這些光譜,可以確定樣品中的元素組成。

    • LIBS具有快速、實(shí)時(shí)、多元素同時(shí)檢測(cè)等特點(diǎn),適用于現(xiàn)場快速檢測(cè)。